[1]
Soriano Carrillo, J., Blanco Fernández, M., García Calleja, M., Leiro López, Ángel, Mateo Sanz, B., Aguiar González, E. y Rubín de Célix, M. 2013. Las microscopías óptica de reflexión y electrónica de barrido como métodos avanzados de análisis para conocer el estado de las geomembranas sintéticas. Revista Digital del Cedex. 171 (feb. 2013).