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La microscopía electrónica de barrido aplicada al estudio de partículas sólidas de contaminación depositadas sobre la piedra monumental
Núm. 101 (1996): Ingeniería Civil
Enviado: Mar 20, 2018
Publicado: Mar 9, 1996
Resumen
Las partículas sólidas de contaminación intervienen de forma significativa en el deterioro de la piedra monumental. La microscopía electrónica de barrido (SEM), asociada al microanálisis (EDX), constituyen una herramienta muy útil en su estudio. En este trabajo se pone especial atención en la toma y preparación de este tipo de muestras y se presentan algunos ejemplos de partículas, que pueden informar sobre el origen del deterioro.